膜厚測量儀日常維護小知識

時間：2023-01-11

作者：江蘇一六儀器有限公司

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一文了解光譜分析儀及光譜分析儀種類
光譜分析儀簡稱光譜儀，是將成分復雜的復合光分解為光譜線并進行測量和計算的科學儀器，被廣泛應用于輻射度學分析、顏色測量、化學成份分析等領域，下面和一六儀器一起了解一下。光譜分析儀一般由分光系統、接收系統和數據處理系統組成，其工作原理是將光源發出的復色光按照不同的波長分離出來，配合各種光電探測器件對譜線強度進行測量，獲得光譜功率(輻射)分布，再計算出色品坐標、色溫、顯色指數、光通量、輻射通量等光色性能
能量色散X熒光光譜儀的原理是什么？一文帶你了解
能量色散X熒光光譜儀（Energy Dispersive X-ray Fluorescence Spectrometer，簡稱ED-XRF）是一種用于材料分析的儀器，它通過測量樣品吸收入射X射線后產生的熒光輻射來確定樣品中各種元素的含量。其原理涉及X射線的產生、樣品的激發和熒光輻射的檢測。以下是ED-XRF的工作原理的基本步驟：?1. X射線產生：ED-XRF儀器通過使用X射線管產生X射
X熒光光譜儀兩種分類介紹
隨著科學技術的進步，在60年代初發明了半導體探測器以后，對X-熒光進行能譜分析成了可能。能譜色散型X熒光光譜儀(ED-XRF)，用X射線管產生原級X射線照射到樣品上，所產生的特征X射線(熒光)直接進入半導體探測器，便可以據此進行定性分析和定量分析。接下來和一六儀器了解X熒光光譜儀兩種分類介紹。X-射線熒光光譜儀(XRF)是一種較新型可以對多元素進行快速同時測定的儀器。在X射線激發下，被測元素原子的
能量色散X熒光光譜儀在陶瓷金屬化鍍鎳測厚領域的優勢
隨著科學技術的不斷發展，先進的測量技術在工業領域中發揮著越來越重要的作用。能量色散X熒光光譜儀（EDXRF）作為一種強大的分析工具，在進行陶瓷金屬化鍍鎳測厚方面表現出*特的優勢，尤其是在解決傳統測厚方法面臨的各種難題時。EDXRF以其非接觸性、多元素分析、*標準曲線等特點，正逐漸成為這一領域的焦點。?1. 非接觸性測量：陶瓷作為一種脆性材料，對外界力量較為敏感。傳統測厚方法可能因施加壓