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隨著科學技術的進步,在60年代初發明了半導體探測器以后,對X-熒光進行能譜分析成了可能。能譜色散型X熒光光譜儀(ED-XRF),用X射線管產生原級X射線照射到樣品上,所產生的特征X射線(熒光)直接進入半導體探測器,便可以據此進行定性分析和定量分析。接下來和一六儀器了解X熒光光譜儀兩種分類介紹。X-射線熒光光譜儀(XRF)是一種較新型可以對多元素進行快速同時測定的儀器。在X射線激發下,被測元素原子的
光譜分析儀簡稱光譜儀,是將成分復雜的復合光分解為光譜線并進行測量和計算的科學儀器,被廣泛應用于輻射度學分析、顏色測量、化學成份分析等領域,下面和一六儀器一起了解一下。光譜分析儀一般由分光系統、接收系統和數據處理系統組成,其工作原理是將光源發出的復色光按照不同的波長分離出來,配合各種光電探測器件對譜線強度進行測量,獲得光譜功率(輻射)分布,再計算出色品坐標、色溫、顯色指數、光通量、輻射通量等光色性能
光譜測厚儀本身的分辨力和精細的光譜辨析效果也為后續的測量質量帶來了品質,這種光譜儀裝置其本身的效果要表現出穩定的質量,影響光譜儀檢測質量的因素。接下來和一六儀器一起了解一下。一、相應傳導技術的水平和探測裝置的技術能力由于待測物質體積的限制相應的采樣方法必須要較加靈活且較加可靠,而我國廣受**的光譜測厚儀使用方法會受到這種探測裝置知識能力的影響,由于其本身的光纖信號和相應的傳輸作用有著顯著的差異,后
一六儀器是一家專注于光譜測量領域的儀器制造商,其生產的一機多用光譜測厚儀具有多種功能和應用領域。下面將介紹一下一六儀器一機多用光譜測厚儀的主要檢測功能。一六儀器一機多用光譜測厚儀可以用于薄膜厚度測量。薄膜是一種常見的材料,廣泛應用于電子、光學、醫療等領域。這款儀器可以通過光學原理和光譜分析技術,準確測量薄膜的厚度。用戶只需要將待測薄膜放置在儀器上,儀器會自動進行測量并給出。一六儀器一機多用光譜測厚
公司名: 江蘇一六儀器有限公司
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