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上照式x熒光光譜儀有哪些你不知道的產(chǎn)品細節(jié)?使用注意事項
XAD-200是一款全元素上照式熒光光譜儀,既保留了**測厚儀檢測微小樣品和凹槽的膜厚性能,又可滿足RoHS有害元素檢測及成分分析,搭載全自動平臺實現(xiàn)XYZ軸編程位移,實現(xiàn)**多點測量,測量軟件置入**的EFP算法及解譜技術,解決了諸多業(yè)界難題。全元素上照式x熒光光譜儀被廣泛用于各類產(chǎn)品的質量管控、來料檢驗和對生產(chǎn)工藝控制的測量使用。上照式x熒光光譜儀產(chǎn)品細節(jié):高精密移動裝置快速精準定位;自動
我們如果要選擇一臺好的熒光光譜儀,首先需要要避免的誤區(qū)是僅僅看儀器的配置是什么。熒光光譜儀是否是的,較終應該是體現(xiàn)在其應用水平上,首先保證是否可以滿足需求的功能,達到元素識別、產(chǎn)品評估、定位、生產(chǎn)管控等目的。今天就跟著熒光光譜儀生產(chǎn)廠家一六儀器的小編來看一看吧。1.較小測量面積熒光光譜儀是否可以測試微小樣品,目前**的較小可以測到0.05mm直徑,實現(xiàn)精準定位測試。2.可測樣品的形狀熒光光
廣東一六X熒光光譜測厚儀是一種高精度的測量設備,可以用于對金屬表面進行非接觸式測量。它的主要優(yōu)勢包括以下八個方面:高精度測量:廣東一六X熒光光譜測厚儀可以實現(xiàn)高精度的測量,其測量誤差可以達到0.1微米以下。全自動測量:該測厚儀采用全自動測量方式,可以實現(xiàn)對金屬表面的快速測量,提高了工作效率。非接觸式測量:廣東一六X熒光光譜測厚儀采用非接觸式測量方式,不會對金屬表面造成任何損傷。多種測量模式:該測厚
X射線熒光光譜儀(XRF)是一種廣泛應用于元素分析和鍍層測厚的工具,而能量色散X熒光光譜儀(ED-XRF)則是其重要變體。本文將簡單介紹ED-XRF的工作原理以及應用。?ED-XRF的工作原理首先涉及到X射線的產(chǎn)生。在ED-XRF儀器中,一束高能電子通過X射線管,通常由鉭制成。電子在X射線管中受到加速并撞擊X射線管的陽極材料,如鎢或銠。這個過程產(chǎn)生了高能X射線。?生成的X射線穿
公司名: 江蘇一六儀器有限公司
聯(lián)系人: 董思琪
電 話:
手 機: 18915487005
微 信: 18915487005
地 址: 江蘇蘇州昆山市成功路168號
郵 編:
網(wǎng) 址: elite1617.b2b168.com
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