硫鎵銀晶體，非線性晶體，硫鎵銀晶體，硒化鎘晶體選型事項

時間：2020-04-13

作者：深圳維爾克斯光電有限公司

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詞條說明
Specim推出全新線陣掃描高光譜相機GX17，工業專用
Specim宣布推出用于高級機器視覺的新高速線掃高光譜相機Specim GX17。新型Specim GX17補充了SpecimFX相機系列，其是第一款專為工業用途設計的近紅外高光譜相機。SpecimGX17線陣掃描高光譜相機的最大幀速率為800Hz，空間像素為480，比基于QVGA傳感器的傳統高光譜相機高出50%，大批量購買具有最佳梯度價。高效準確的光學分選和檢測Specim GX17是一款功能強
specim高光譜成像技術對比三原色相機成像的優勢
機器視覺制造商廣泛使用紅綠藍(RGB)相機來識別物體，這些相機適用于根據物體的形狀和顏色來表征物體。然而，由于只有三個可見波段可用，它們的識別能力十分有限。而高光譜技術可用于要求更高的應用，通過在寬光譜帶通上記錄數百個波段來測量物體或場景。這些波段是連續的，不僅限于光譜的可見光部分。每種材料都有其獨特的成分，因此會對電磁波譜產生獨特的反應，高光譜成像(HSI)為用戶提供大量信息，允許根據其化學成分
EUV硅光電二極管和極紫外光電二極管的溫度和偏振性能
使用National Synchrotron Light Source的光束線X24C測量EUV硅光電二極管（AXUV100型）的性能特性，在-92°C+41°C的溫度范圍內、3.0nm-88.2nm的波長范圍內，測量了二極管的靈敏度。這項工作可以更好的理解比室溫更冷或更熱的環境中的二極管靈敏度變化，例如在航天器上或在強烈的同步加速器或激光照射下。此外，還測量了具有多層干涉涂層的AVU100二極管
掃描狹縫式光束分析儀與相機式光斑分析儀的區別
? ? ?對于光束分析儀的早期設備，掃描狹縫式光束分析儀或刀口式光束分析儀是唯一可用的光束分析儀器設備選項。掃描狹縫式光束分析儀用于分析近高斯光束的橢圓(或圓形)自由空間光束，根據光束直徑采用掃描狹縫或刀口技術。然而，隨著CCD和CMOS傳感器的出現，相機式光斑分析儀雖然逐步地應用于激光光束分析儀，但掃描狹縫檢測器仍在少數激光光束特性分析應用中使用，而在這些應用中它們